Оптический профилометр, TopMap Pro.Surf DirectIndustry

3D И АРЕАЛЬНАЯ ОЦЕНКА ПАРАМЕТРОВ ФОРМЫ И ТОПОГРАФИИ ПОВЕРХНОСТИ

TopMap Pro.Surf определяет отклонение формы и топографию поверхности быстро, 3D на больших площадях и с предельной точностью. TopMap Pro.Surf - это высококлассная оптическая система профилометрии поверхности, идеально подходящая для контроля качества в производстве точной механики, как на линии, так и вблизи производства. TopMap Pro.Surf предлагает индивидуальные решения для всех задач по определению характеристик поверхности, когда оценка параметров поверхности, таких как плоскостность, высота ступеней и параллельность, является основополагающей. Высокое пространственное разрешение и телецентрическая оптическая концепция с превосходной скоростью измерения делают этот прибор надежным бесконтактным датчиком на производстве.

Измерение допусков формы, таких как плоскостность, волнистость, высота ступеней
Интерферометры белого света Polytec позволяют проводить ареальные 3D-измерения, собирая все детали поверхности за один снимок. Запишите два миллиона точек измерения на большом поле зрения (FOV) 44 x 33 мм всего за несколько секунд и избегайте трудоемкой сшивки отдельных участков. По желанию можно расширить FOV до 230 x 220 мм. Используйте 70-миллиметровый диапазон вертикальных измерений и получайте превосходное вертикальное разрешение независимо от размера поля изображения. Телецентрическая оптическая конструкция позволяет исследовать даже труднодоступные или глубоко утопленные участки, например, просверленные отверстия.

Характеристики

• Артикул: TopMap Pro.Surf
• Технология: оптический, 3D, с интерферометрией белого света
• Другие характеристики: бесконтактный, линейный, недеструктивный, высокоскоростной, автоматический, с поворотным координатным столом
• Конфигурация: настольный, компактный
• Место применения: для промышленности, для лабораторий, для контроля, для производственной линии, для поворотных деталей, для больших деталей
• Функция: для измерения шероховатости поверхности, для измерения плоскостности поверхности, для измерения угла, для измерения формы, геометрии, для анализа тонких слоев, для наблюдения за деформацией