Оптический профилометр, TopMap Micro.View+, Polytec

TopMap Micro.View®+ - это оптический профилометр поверхности нового поколения. Разработанная по модульному принципу, эта комплексная рабочая станция позволяет быстро и эффективно проводить рутинные проверки, а также создавать индивидуальные и специфические для конкретного применения конфигурации для всестороннего анализа микротопографии. Micro.View®+ позволяет проводить самый подробный анализ шероховатости поверхности, текстуры поверхности и топографии микроструктуры. Сочетание трехмерных данных с цветовой информацией обеспечивает потрясающую визуализацию и расширенный анализ, например, подробное документирование дефектов. Камера высокого разрешения 5 МП обеспечивает невероятно подробную визуализацию 3D-данных на инженерных поверхностях.

Кодированная и моторизованная турель обеспечивает плавный переход между объективами. Micro.View®+ оснащен новейшей системой поиска фокуса и отслеживания фокуса, что позволяет держать поверхность в фокусе при любых обстоятельствах. Полностью моторизованные ступени позиционирования образцов позволяют выполнять сшивку и автоматизацию.

Характеристики

• Производитель: Polytec
• Артикул: TopMap Micro.View+
• Технология: оптический, 3D, с интерферометрией белого света, интерферометрический
• Другие характеристики: бесконтактный, недеструктивный, линейный, автоматический, с поворотным координатным столом
• Конфигурация: настольный, компактный
• Место применения: для промышленности, для использования в промышленности, для лабораторий, для контроля, для производственной линии, для поворотных деталей, для микролинз, для полупроводника
• Функция: для измерения шероховатости, для измерения шероховатости поверхности, геометрии, для анализа тонких слоев, для наблюдения за деформацией